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场发射扫描电子显微镜(SEM)

发布时间 :2022年05月09日      阅读量:



生产厂家:日本日本电子株式会社 型号:JSM-7610F

主要性能指标:二次电子像分辨率:0.8 nm(加速电压15 kV),1.0 nm(加速电压1 kV)分析时3.0 nm (加速电压15 kV, WD 8 mm,探针电流5nA)

加速电压:0.1~30 kV,放大倍数:25~1,000,000倍

能谱:有效面积10mm2,元素分析范围: Be4~Pu94

服务领域:

1)观察高分辨的微观结构与形貌;

2)能谱用于材料的微区成分定性、定量分析

样品要求:

试样可以是块状或粉末颗粒,在真空中能保持稳定;样品表面要处理干净;在高真空状态观察,样品应干燥,不含水分、溶剂油脂等挥发物;保护样品观察表面不受损伤和污染;样品的大小应适合在样品台上放置及移动,较大的样品需进行切割,确定好取样部位;不含磁性。

设备管理员:黄艳萍 联系电话:028-85850992,15756250828




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